本發明公開了一種硅球導電性能檢測分揀設備,包括殼體,所述殼體內右上端設有開口向上的送料腔,所述送料腔下側設有傳動軸,所述送料腔內設有自動輸入待檢測的硅球的進料機構,所述傳動軸內設有連續控制硅球進行檢測的配合送料機構,所述殼體內左下端設有快速對硅球進行導電性檢測的高效分揀機構,該設備根據硅球純度不同而導電性不同的性質將硅球分揀成兩級,在分揀的過程中可實現對硅球進行連續且間歇性的輸送,并與三個檢測機構的工作效率相吻合,實現了每個檢測機構都能夠連續的對硅球進行檢測分揀,大大提高了硅球檢測分揀的效率。
聲明:
“一種硅球導電性能檢測分揀設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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