本實用新型提供一種光學性能檢測光路,包括入射端連接有第一光纖的第一準直透鏡、用于將第一準直透鏡出射的自然光光束分開為P光光束和S光光束的第一晶體、設置在P光光束和S光光束的下游光路上的帶通濾光器、設置在帶通濾光器的透射光路徑上的第二晶體、設在第二晶體的出射光下游路徑上且出射端連接有第二光纖的第二準直透鏡、用于檢測第二光纖的出射光的光電探測器、第一半波片、第二半波片。本實用新型提供的光學性能檢測光路,利用兩個雙折射晶體、一個帶通濾光器和兩個半波片來實現低損耗傳播的目的,能夠提高檢測光路的檢測精度且能夠通過轉動帶通濾光器達到檢測不同波長對應的光功率的目的。
聲明:
“一種光學性能檢測光路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)