本發明涉及一種測試裝置,尤其涉及一種集成電路性能檢測用測試裝置。本發明提供一種能夠減少對芯片的摩擦損壞程度,也能夠進行芯片分類存放的集成電路性能檢測用測試裝置。本發明提供了這樣一種集成電路性能檢測用測試裝置,包括有第一安裝座、第一導軌、第一連接板、第一滑塊、第二導軌等,第一安裝座左部上側安裝有第一導軌,第一導軌上側開有放置槽,第一導軌上滑動式設有第一滑塊,第一安裝座右部上側前后對稱式設有第一連接板,兩塊第一連接板下部相向的一側上均連接有第二導軌。通過電動吸盤將芯片吸附住,以此能夠減少對芯片的摩擦損壞程度,通過第一儲物框和第二儲物框能夠進行芯片的分類存放。
聲明:
“一種集成電路性能檢測用測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)