本實用新型公開手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置;包括主控制器、用以輸送真空鍍膜手機后蓋來料的來料輸送裝置、用以感應真空鍍膜手機后蓋來料并對真空鍍膜手機后蓋來料進行定位的來料感應及定位裝置、用以測量定位好的真空鍍膜手機后蓋來料納米膜層電阻值的電阻自動測量裝置、用以對絕緣性能檢測合格的真空鍍膜手機后蓋來料邊緣打產品標識碼的激光打碼裝置及用以對絕緣性能檢測合格并打有產品標識碼的真空鍍膜手機后蓋來料及絕緣性能檢測不合格的真空鍍膜手機后蓋來料背面進行覆膜的來料背面覆膜裝置;效果:本實用新型可自動測量真空鍍膜手機后蓋來料電阻值以評估其絕緣性能,使得節省人力,降低勞動成本。
聲明:
“手機后蓋真空鍍膜納米膜層絕緣性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)