本發明提供了一種熔斷器性能檢測裝置與方法,涉及熔斷器領域。該熔斷器性能檢測裝置包括采樣電阻、示波器、可編程電子負載以及電容器,采樣電阻、可編程電子負載依次串聯,示波器與采樣電阻并聯,電容器與可編程電子負載并聯。該熔斷器性能檢測裝置實現了即使在單脈沖持續時間小于5ms時,也可以進行精確脈沖試驗,適合進行方波脈沖試驗,另外,操作人員或裝置可以依據示波器的波形調整電容值,以避免因電容放電效應而產生樣品意外損傷,從而產品性能分析十分精確。
聲明:
“熔斷器性能檢測裝置與方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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