本發明公開了一種基于二維充電法的地質勘探方法。它通過充電法對一定范圍內的地質進行探測獲取二維充電法電位數據,對二維充電法電位數據進行數據處理,去除二維充電法電位數據中的正常場數據后獲取對應的異常場數據,通過異常場數據體現地質的實際分布情況。本發明采用充電法獲得二維充電法電位數據后,對二維充電法電位數據中提取正常場后再獲得對應的異常場數據,采用異常場數據對地質情況進行解釋而不是采用原始數據進行解釋,通過本發明的勘探方法得到的地質分布情況更精確。
聲明:
“基于二維充電法的地質勘探方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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