本申請提供了一種地應力的分析方法、裝置以及處理設備,用于高效且高精度地搜索出影響地應力的參數的量化數值,進而可根據確定的參數進行高精度的地應力分析。方法包括:處理設備通過計算模型以及第一影響參數值,對目標區域的測量點的地應力執行有限元分析處理,得到測量點的第一計算地應力;當第一計算地應力與實際地應力之間的誤差不滿足終止條件時,搜索誤差的下降方向,并在下降方向上搜索第二影響參數值,并通過計算模型以及第二影響參數值計算測量點的第二計算地應力,若第二計算地應力與實際地應力之間的誤差滿足終止條件,則停止搜索;通過計算模型以及第二影響參數值,對目標區域的地質結構的地應力執行有限元分析處理。
聲明:
“地應力的分析方法、裝置以及處理設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)