本發明公開了一種巖層產狀的計算方法及系統,該方法包括獲取實測產狀及其對應的權重系數;獲取地質平面圖及剖面、地球物理平面圖及剖面解釋圖,并從中提取出地層延伸方向及其對應的權重系數;在提取的地層延伸方向處設置初始產狀;利用插值計算算法,計算實測產狀點處及地層延伸方向點處初始產狀的交叉驗證產狀;使用參數角θ對地層延伸方向點處初始產狀的交叉驗證產狀進行表達,利用投影計算方法,計算參數角θ對應的投影產狀;計算實測產狀與實測產狀點處交叉驗證產狀之間,以及地層延伸方向點處的交叉驗證產狀與其對應的投影產狀之間的夾角;結合所得的兩個夾角,構建目標優化函數,最后針對目標優化函數進行迭代優化,進行最優投影產狀的計算。
聲明:
“巖層產狀的計算方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)