本發明提出了一種測量頻率域水平X方向磁場分量并同時計算“全區”視電阻率的方法包括:(1)、在近似方位上的勘探區域,測量頻率域水平X方向磁場分量的頻譜資料;(2)、將水平X方向磁場分量的頻譜資料轉換為實測歸一化函數;(3)、采用數值尋找出理論歸一化函數與實測歸一化函數相等的點,再獲取“全區”視電阻率。通過頻譜資料處理和反演得到地下特定深度目標地層的電阻率分布資料。本發明僅采集水平X方向磁場分量,布設儀器方便,施工效率高,工程成本低;增強了對地質目標水平方向上的分辨能力;解決了復雜地貌條件下常規電磁法的技術難點;克服了常規時間域方法長延遲信噪比比短延遲信噪比低的缺點。
聲明:
“頻率域水平X方向磁場分量觀測及資料處理方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)