本發明涉及用于介電性能測試的氮化硅纖維試樣、制樣方法及測試方法,屬于復合材料技術領域。所述試樣由氮化硅短纖維搭接形成,且搭接的所述氮化硅短纖維通過氧化硅粘接,所述氧化硅的質量為所述短纖維的1%~5%,所述氮化硅短纖維表面無上漿劑、長度≤0.5mm。本發明解決了氮化硅纖維不滿足測試形狀尺寸要求的難題,而且采用該方法制備的試樣可以測試各個波段的高溫介電性能,溫度范圍擴展至室溫~1400℃。
聲明:
“用于介電性能測試的氮化硅纖維試樣、制樣方法及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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