本發明公開了一種基于跡線確定巖體結構面產狀的方法,屬于巖體測量技術領域,提供新的基于跡線確定巖體結構面產狀的方法,尤其適用于開挖方向與結構面走向呈小角度相交的巖體開挖工程。本發明所述基于跡線確定巖體結構面產狀的方法,無需使用地質羅盤,因此能夠很好地應用于巖體開挖過程中巖體結構面出露面積小、羅盤無法緊貼結構面進行測量的情況,同時,本發明所述的方法也不會受到磁場干擾;因此可獲得準確的結構面產狀信息。
聲明:
“基于跡線確定巖體結構面產狀的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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