本發明公開了一種基于色差識別的巖石微觀結構射線成像探測法,它包括利用X?射線獲取巖石微觀結構;采用矩陣單元色差識別分割算法,通過色差分塊矩陣邊界單元色差計算巖石內部各微觀結構相色差識別閾值,并結合灰階識別閾值,最終獲得巖石微觀結構相最優分割閾值;完成巖石內部裂紋、孔隙和固體基質等多類微觀結構相的精確分割。它可以提高巖石內部各類微觀結構相的分割精度,提高預測巖石物理力學參數預測精度,從而應用于深部巖石工程地質災害和深部能源開發工程。本發明的優點是:精確識別區分巖石裂紋和孔隙及其他固體基質結構相,提高巖石微觀結構識別分割精度,提高預測巖石物理力學參數預測精度。
聲明:
“基于色差識別的巖石微觀結構射線成像探測法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)