本發明所提供的太赫茲材料的偏振光譜特性測量裝置或測量系統,包括一片旋光晶體、一聚焦鏡、一切割方向為111度的閃鋅礦晶體、一脈沖延時器、一寬帶1/4波片、一硅片、一非偏振分束器、兩只聚焦透鏡、二片寬帶半波片、二塊偏振分束器以及兩只平衡探測器。由于光路中引入了旋光晶體,因此只需經過一次時間掃描,即可獲得待測樣本在不同光譜、不同偏振方向入射情況下的光譜特性;同時,本發明采用切割方向為111度的閃鋅礦晶體,可以實現同時在兩個垂直方向上的電光取樣測量,從而大大提高了測量效率。因此,本發明所提供的裝置或系統能夠達到高效測量的效果。
聲明:
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