本發明是根據新工作原理設計的新型同位素X熒光多元素分析儀。它有特殊設計的雙探頭非真空測量室,其輕元素探測器是鈹窗厚度為25μ的高分辨率封閉式正比計數管,重元素探頭為雙源探頭。同時采用了雙通路512道脈沖處理器和獨特的X熒光能譜數學解析技術,成功地解決了輕元素和相鄰元素的定量分析問題,可以測定元素周期表中包括Al、Si等輕元素在內的大多數元素。本發明在冶金、地質、礦業、化工、建材等工業領域具有廣泛的用途。
聲明:
“新型同位素X熒光多元素分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)