本發明公開了一種基于兩個光電探測單元構成的波長探測器,其包括兩個呈上下或前后平行放置的以半導體晶片或鈣鈦礦薄膜作為吸光層的光電探測單元,當光從位于上方或前方的光電探測單元向下或向后逐層照射波長探測器時,兩光電探測單元的電流比隨被探測光波長的增大而規律變化,從而可根據電流比識別被探測光的波長。本發明的波長探測器可探測的波長范圍從265nm(紫外)?1.6μm(中紅外),具有性質穩定、可靠性強、響應速度快、準確性和重復性高等優點,且制備工藝簡單、成本低廉。
聲明:
“基于兩個光電探測單元構成的波長探測器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)