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透射電鏡樣品的制備方法

863   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:05:34
本發明提供了一種透射電鏡樣品的制備方法,首先在芯片的正面粘貼一金屬環;然后剝離所述芯片的背面至所需觀測的結構層;最后切除所述金屬環外圍的芯片,保留了所述金屬環連同所述金屬環內的芯片,形成最終的透射電鏡樣品。此時整個金屬環的內部均為薄區,進一步的,所述樣品的面積已達mm2級別,實現了大面積透射電鏡觀測的效果,透射電鏡能夠對該樣品進行大面積觀測以尋找失效結構。
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