基于低頻噪聲與加速老化試驗相結合的VCSEL預篩選方法,涉及一種垂直腔面發射激光器的預篩選方法,解決現有對VCSEL的篩選方法存在可靠性低且不具備普適性等問題,一、根據VCSEL器件結構搭建其噪聲譜測量裝置;二、測量VCSEL器件的初始低頻電噪聲;三、測量室溫下經24h連續電功率老化試驗后的VCSEL噪聲變化量;四、測量熱應力加速試驗下待測VCSEL器件的缺陷狀態,并確立由缺陷狀態變化量引起的1/f噪聲功率譜密度;五、確定最佳噪聲判據閾值,建立待測VCSEL器件預篩選判據模型,對VCSEL器件預篩選;該發明可以更加有效地對初測噪聲較小,經過老化試驗后卻較早失效的VCSEL器件進行篩選,同時對同一批次噪聲閾值一致的器件進行預篩選,實現對VCSEL器件的有效精確篩選。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)