本發明提供了一種疲勞曲線標定方法及可讀存儲介質。其中,所述疲勞曲線標定方法包括如下步驟:獲取預設測試條件下的測試數據,所述測試數據包括具有對應關系的電壓等級和壽命時長;線性化預設壽命函數表達式;基于所述測試數據擬合線性化后的所述預設壽命函數表達式,得到第一待定系數;以及,所述第一待定系數代入所述預設壽命函數表達式得到期望壽命曲線?;谒銎谕麎勖€,設計人員可以估計特定元件在實際工況中的失效概率和預期使用壽命,解決了現有技術中存在的特定元件的失效概率和/或預期使用壽命不清楚的問題。
聲明:
“疲勞曲線標定方法及可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)