本發明公開了一種用于CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準系統及方法,通過在CMOS圖像傳感器上集成與有效列讀出電路通過選通開關并聯的校準列讀出電路;利用有效列讀出電路的讀出數據判斷CMOS圖像傳感器上有效列讀出電路列的失效情況;通過校準列讀出電路獲取CMOS圖像傳感器上校準列讀出電路的讀出數據,根據校準列讀出電路的讀出數據判斷校準列讀出電路列的失效情況;利用校準列讀出電路的有效列電路替換有效列讀出電路的失效列電路,實現CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準,通過測試確定有效列讀出電路中失效列,利用校準列讀出電路實現失效列校準,可有效降低壞列影響,提升電路成品率。
聲明:
“用于CMOS圖像傳感器的列讀出電路校準系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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