本發明提供一種集成電路壽命預估方法及裝置、電子設備和存儲介質,其中,集成電路壽命預估方法包括建立包含至少三個影響因子的多組測試組,以每一測試組的三個影響因子為測試條件對待測試集成電路的功能失效時間進行測試以獲得實驗失效時間;根據多組測試組的三個影響因子以及多組對應每一測試組的所述實驗失效時間確定多個加速因子,并根據原始加速因子模型、三個所述影響因子以及多個所述加速因子建立加速因子?相對壽命模型;根據待測試集成電路的應用環境的三個影響因子以及加速因子?相對壽命模型預估使用時間長度。通過上述方案,可以引入其他影響因子對集成電路壽命進行準確預估,避免了僅僅依靠溫度和濕度進行集成電路使用壽命預估的偏差。
聲明:
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