一種實用的電子產品壽命評估模型參數高精度萃取方法包括如下步驟:(1)確定失效物理模型及待萃取的模型參數;(2)獲取產品幾何和材料參數的均值和上下限,并采用工藝能力指數表征其不確定性;(3)根據產品幾何和材料參數的均值估算失效物理模型的初始模型參數;(4)根據幾何和材料參數的分布類型抽樣獲得其隨機值;(5)結合Monte-Carlo仿真方法獲得產品壽命的隨機值;(6)根據壽命隨機值得到產品壽命的理論分布函數;(7)采用殘存比率法對試驗失效數據進行處理得到產品壽命的經驗分布函數;(8)利用K-S檢驗方法對上述兩個壽命分布函數的擬合度進行檢驗;(9)對模型參數進行尋優萃取,直到獲得擬合度最優的模型參數。
聲明:
“實用的電子產品壽命評估模型參數高精度萃取方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)