本發明提供一種判斷半導體激光器芯片光學災變類型的方法,解決現有半導體激光器芯片COBD和COMD的判斷成本較高、判斷時間較長、生產效率較低的問題。該方法包括:步驟一、設置加載電流;步驟二、將加載電流加載在半導體激光器芯片上;步驟三、采集半導體激光器芯片的電流?功率曲線、電流?電壓曲線;步驟四、若電流?功率曲線突然下降,同時,電流?電壓曲線突然上升,則判斷芯片的光學災變為COMD;若電流?功率曲線突然下降,同時,電流?電壓曲線突然下降,則判斷芯片的光學災變為COBD。本發明方法無需專業設備,只需采集測試過程中的電流、功率值和電壓值,即可進行COBD和COMD的判斷,檢測設備簡單、成本較低,只需普通技術人員即可實現失效的判斷。
聲明:
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