本發明提供一種芯片的篩選方法,包括:提供一晶圓,所述晶圓包括多個芯片,各個所述芯片包含多個存儲單元;向所述芯片的所有所述存儲單元寫入數據以設置第一測試背景,并在所述第一測試背景下獲取所述芯片的第一測試數據;向所述芯片的所有所述存儲單元寫入數據以設置第二測試背景,并在所述第二測試背景下獲取所述芯片的第二測試數據;基于所述第一測試數據及所述第二測試數據,判斷所述芯片是否失效。通過本發明解決了現有的無法通過檢驗存儲單元電壓VT最小值方法來篩查不合格芯片的問題。
聲明:
“芯片的篩選方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)