本發明公開了一種模擬太陽風轟擊宇航級芯片的等離子體輻照平臺,該平臺為用來模擬太陽風高速等離子體粒子流轟擊宇航級電子學芯片致使其致盲的輻照平臺,具體涉及脈沖等離子體源以及芯片輻照檢測技術領域,包括有輻照主機系統,多脈沖高壓、大電流電源,電源控制器,真空腔室,真空泵組,高速脈沖進氣閥,載物臺以及芯片失效實時監測系統。本發明可以用來模擬空間多脈沖高速等離子輻照宇航級芯片后對芯片失效的影響,本發明所設計的等離子體源產生的目標等離子體和空間環境下的太陽風等離子體參數接近,是一種用來模擬該效應對宇航級電子學芯片致盲效應的有效手段。
聲明:
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