本發明公開了一種陣列基板和顯示裝置,該陣列基板中,包括形成在源漏電極層的對位標記,并在像素電極和鈍化層中對應于對位標記的區域形成檢測孔,這樣可以通過將電子束照射到檢測孔中實現對對位標記進行正常檢測。并且,由于在對位標記和公共電極線之間僅包含柵極絕緣層和刻蝕保護層,這樣就僅需要一次干法刻蝕就能實現對位標記與公共電極的連接,從而解決了多次干法刻蝕制作同一過孔導致的過孔側壁坡度不一致問題,減小像素電極在過孔側壁發生斷裂引起檢測圖形失效的可能性。
聲明:
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