一種集成電路貯存使用薄弱環節識別及工藝改進方法,包括以下步驟:對集成電路貯存使用環境進行分析,確定貯存使用過程中使用年限主要影響因素;分析主要影響因素作用下的失效模式和失效機理;根據貯存使用環境以及失效模式、失效機理的分析結果,確定對集成電路進行加速壽命試驗所需要的應力,對集成電路進行加速壽命試驗;在加速壽命試驗的過程中,選擇測試節點對集成電路性能參數進行測試,并抽樣進行質量分析,如果失效,則進行失效分析;根據加速壽命試驗結果判斷貯存使用年限是否滿足要求,如果不滿足要求,則對貯存使用薄弱環節進行識別;根據識別出的薄弱環節針對相應制造工藝進行改進。本發明能夠有效提升產品的質量和貯存使用可靠性。
聲明:
“集成電路貯存使用薄弱環節識別及工藝改進方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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