一種探針卡組件,可包括導向板,所述導向板包括用于將探針固定在預定位置的探針導向件。所述探針卡組件還可包括附接在導向板上的接線結構,使探針的連接尖端與接線結構上的觸頭相抵比并附接在其上。所述導向板在接線結構上的附接可使接線結構以大于導向板的比率膨脹或收縮。所述探針可包括柔性元件,所述柔性元件可遠離接觸尖端,可在大電流和熱應力下失效。
聲明:
“用于測試電子器件的探針卡組件” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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