本申請公開了一種量產測試方法、系統和存儲介質,以實現在量產測試時做到測試數據質量高、良率損失低且測試時間短三者兼顧。該方法包括:獲取同一型號不同批次的芯片的實測參數;基于所述實測參數,分別對各批次進行失效率和良率的聯合卡控;對經所述聯合卡控篩選出的問題批次進行部件平均測試;根據聯合卡控結果和部件平均測試結果輸出本次量產測試結果。
聲明:
“量產測試方法、系統和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)