本發明提供一種存儲單元可靠性的測試方法,所述存儲單元具有開啟擦除狀態的第一閾值電壓和開啟編程狀態的第二閾值電壓,其中,所述存儲單元可靠性的測試方法至少包括:預先設定一感知電壓;對所述存儲單元進行擦除或編程操作,讀取所述存儲單元的當前電壓;比較所述當前電壓和所述感知電壓,根據比較結果確定所述存儲單元的當前工作狀態;判斷所述存儲單元的當前工作狀態與其所受的操作是否相符;若是,判定所述存儲單元正常工作;若否,則判定所述存儲單元失效。本發明能夠通過測試存儲單元的工作狀態,來測試存儲單元的可靠性,具有高精確度和較短的編程時間,方法簡單,能夠快速、精確評估存儲器產品的可靠性,同時節省了編程時間。
聲明:
“存儲單元可靠性的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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