合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 剔出芯片點測過程中不良晶粒的裝置

剔出芯片點測過程中不良晶粒的裝置

842   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:21
本實用新型提供一種剔出芯片點測過程中不良晶粒的裝置,該裝置是在晶圓片測試芯片晶粒時,發現不合格的失效晶粒,在失效晶粒上正常打點,并注入磁性油墨,在切割、分離后的晶粒兩側,布設兩根非磁性導軌,導軌距分離后的晶粒的高度在4-6mm,在兩根導軌之間架設一磁鋼滾筒,磁鋼滾筒受電機帶動,沿導軌來回滾動,吸出晶圓片上的不良晶粒。所述磁性油墨的磁極性與磁鋼滾筒的磁極性相反。本實用新型的優點是,剔出不合格晶粒效率高,成品率高,大大降低了生產成本。
登錄解鎖全文
聲明:
“剔出芯片點測過程中不良晶粒的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX