本發明公開了一種應用于集成電路的測試探針卡,包括探針座和檢測電路板,探針座上成型有探針孔,探針孔內插接有探針,探針包括中部的止擋部,止擋部的上端面檢測桿,檢測桿的上端露出探針座的上端面,其特征在于:止擋部的下端面成型有豎直的外螺紋套,外螺紋套的內孔內插接有倒置的T型導向桿,T型導向桿上插套有下永磁套,外螺紋套上插套有上永磁套,上永磁套下端面的磁極和下永磁套上端面的磁極相同,T型導向桿內插接固定有導電體,導電體由圓柱形的碳刷頭和碳刷柱組成,碳刷頭抵靠在外螺紋套的內孔壁上,碳刷柱的下端露出T型導向桿的下端面抵靠在檢測電路板上。它結構簡單,組裝方便,能避免因彈簧機械疲勞失效而造成的接觸不良。
聲明:
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