合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 集成電路并行測試方法、裝置和系統

集成電路并行測試方法、裝置和系統

1037   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:16
一種集成電路測試方法、裝置和系統,在共用基底上包含有復數個被測單元和復數個被測單元運行結果比較裝置,不同被測單元執行同一輸入激勵,各自產生運行結果,運行結果由相應運行結果比較裝置比較,產生比較特征,根據特征檢測出失效被測單元。本發明能降低測試成本,縮短形成規模量產時間,降低漏測率。
登錄解鎖全文
聲明:
“集成電路并行測試方法、裝置和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX