本發明涉及漏電檢測技術領域,公開了一種可控硅故障自測試方法、電路、連接器及電器設備。本發明技術方案通過可控硅測試控制模塊接收半波整流電路的交流同步信號,判斷所述交流同步信號的交流幅值小于零時,開始對可控硅進行檢測;在第一預設時間內輸出開啟信號至可控硅的受控端,以使所述可控硅導通,獲取第一目標電壓;在第二預設時間內輸出開啟信號至所述可控硅的受控端,以使所述可控硅導通,獲取第二目標電壓;根據第一目標電壓及第二目標電壓計算差值與閾值比較,判斷所述可控硅是否失效,在所述可控硅失效時輸出故障信號警示用戶,實現了漏電檢測電路中可控硅自檢測,不需要人為控制檢測。
聲明:
“可控硅故障自測試方法、電路、連接器及電器設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)