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基于ATE測試平臺的Flash型FPGA測試方法

834   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:15
一種基于ATE測試平臺的Flash型FPGA測試方法,包括:Flash型FPGA器件片上資源劃分;FPGA器件片上資源配置方案設計;生成配置文件及測試向量文件;ATE測試;實現對FPGA器件功能的測試,保證FPGA器件使用前功能性能滿足相關指標要求,避免由于FPGA器件本身失效導致的電路功能性能不滿足要求。
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“基于ATE測試平臺的Flash型FPGA測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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