本發明提供了一種測試電路、陣列基板、顯示面板及測試方法,在陣列基板的非顯示區上設置多個測試電路,每個測試電路包括晶體管以及與晶體管并聯的光致導通器件,晶體管的柵極與一開關信號相連接,晶體管的第一電極與一數據信號相連接,晶體管的第二電極與所述陣列基板的顯示區的某一數據線相連接,光致導通器件的兩端分別連接至第一電極與第二電極,通過采用點光源照射光致導通器件,使得晶體管的第一電極與第二電極導通,即數據信號傳輸至陣列基板顯示區域的數據線內,由此判斷數據線與顯示區內的其他信號線之間是否存在短路,能夠快速判斷不良失效模式,從而提高了測試效率,節省了測試時間,提高了產品的良率。
聲明:
“測試電路、陣列基板、顯示面板及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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