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基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統及測試方法

1193   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:15
本發明提供一種基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統,包括:電壓表(3),電流表(7),可變電阻集以及接收光器件,其中電流表與電壓表一端均接地,電流表的另一端與可變電阻集連接,可變電阻集另一端與接收光器件連接,接收光器件包括串聯連接的VCC電容(2)、跨阻放大器(1)及RSSI電容(10)和探測器(4),RSSI電容一端與可變電阻集連接,VCC電容一端接地,另一端分別連接跨阻放大器以及電壓表連接,探測器一端與跨阻放大器連接;可變電阻集為電阻形成的串聯或并聯電路,可變電阻集的電阻可調,針對不同產品對匹配電阻要求不同,通過調節電壓值以及電流值的變化判斷接收光器件內是否發生電容失效。還公開了對應的測試方法。
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聲明:
“基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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