本發明提出一種繼承性大變形電阻應變片測試結構及測試方法,在測試區L兩端設兩個固結區,將多個電阻應變片Yi兩端固結在測試對象上;在測試區L范圍內,每個電阻應變片Yi的長度為Li?1<Li≤Li?1(1+δ)(i=2,...,i,...n),δ表示電阻應變片有效測試應變量程。當第i個電阻應變片Yi失效時,第i+1個電阻應變片Y1+1進入測試狀態;變形測試數據為應變片Yi數據疊加Yi起始點同一時間點的Yi?1末端數據,以此類推完成大變形檢測。本發明將電阻應變片小變形測試優勢拓展到大變形測試領域,能夠提高大變形檢測精度、拓展大變形檢測范圍,有很好的應用市場前景。
聲明:
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