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基于Cadence高線性激光器陣列芯片的測試系統

1013   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:11
本發明屬于高線性激光器陣列芯片測試領域,高線性激光器陣列芯片的檢測設備由于體積大、投資多,費工時,不能連續測量,自動化程度低,且硬件檢測也需要大量代表性樣品進行化學分析建模,對小批量的芯片測試不切實際;本發明利用Cadence軟件,引入電源電壓、差分輸入電壓、參考電流,溫度補償調制電阻,偏置電流,激光器調制電流,環路失效報警信號,自動功率控制接地模塊,搭建了一套方便快捷,顯示直觀,功能較齊全的智能測試系統,完成高線性激光陣列芯片的各項性能測試,本發明不需要任何硬件設備,能夠驗證高線性激光器陣列芯片各項性能是否達標。
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“基于Cadence高線性激光器陣列芯片的測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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