本發明公布了一種基于開通電流斜率的半導體器件結溫在線檢測系統,其特征在于,包括電源電路,所述電源電路分別與門極驅動電路、電壓與電流測量電路、電流斜率采集電路、信號處理電路、隔離電路、A/D采樣電路和DSP控制器相連接,所述電源電路能夠提供隔離供電;該在線檢測系統依據半導體器件本身的溫度敏感電參數:閾值電壓。本發明具有很好的適用性,可實現低成本、簡單、穩定、快速的獲取半導體器件的實時結溫,有效避免在系統中由于半導體器件結溫過高而造成系統失效的經濟損失以及可能的人員損傷。
聲明:
“基于開通電流斜率的半導體器件結溫在線檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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