一種非接觸芯片卡檢測裝置,包括:讀卡器,所述讀卡器產生射頻信號,并接收非接觸式芯片的反饋信號;控制模塊,所述控制模塊接收所述讀卡器發送的反饋信號以及接收下述觸發傳感器的感應信號;觸發傳感器,所述觸發傳感器感應非接觸式芯片卡,并將感應信號發送給所述控制模塊。本實用新型的檢測裝置設置于非接觸式芯片卡或雙芯片卡生產設備上,利用讀卡器和觸發傳感器相結合,讀卡器用于檢測芯片卡的功能是否失效,配合觸發傳感器感應檢測區域內是否有卡片經過,準確有效的檢測出芯片卡是否為良品,既不影響設備原有的生產速度,又有效提升了不良非接觸式芯片檢測效率。
聲明:
“非接觸芯片卡檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)