本發明涉及光模塊領域,具體涉及一種光模塊的檢測系統。所述檢測系統包括與PCB板接口連接的檢測接口、與檢測接口的各檢測導電觸片連接的選擇開關和與選擇開關連接的電容檢測機構,所述檢測接口的各檢測導電觸片分別與所述PCB板接口的對應I/O口導電觸片插入電連接,所述電容檢測機構在選擇開關的控制下分別與檢測接口的各檢測導電觸片連通,并獲取對應檢測導電觸片的電容值。本發明通過檢測接口與處理芯片的各I/O口連通,以及通過選擇開關及電容檢測機構獲取I/O鏈路中的電容值,從而判斷RF?I/O?path的連接情況,是否存在電容斷裂,金線虛焊,金線斷裂等問題;以及,采用鏈路探測,提高良率,避免早期失效品流入客戶端。
聲明:
“光模塊的檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)