本申請涉及一種電子元件檢測系統。所述電子元件檢測系統包括:多個老化板;多個樣品板,各樣品板上均設有待測電子元件;樣品板設置于老化板上,與老化板一一對應設置,并與老化板一一對應電連接;多個驅動板,與老化板一一對應電連接;檢測控制裝置,與各驅動板均電連接;檢測控制裝置用于設定測試條件、測試判定條件及測試控制信號,將測試控制信號傳輸至驅動板,并實時監測待測電子元件在測試過程中的運行狀態,運行狀態包括正常工作狀態和失效狀態;驅動板用于根據測試控制信號對待測電子元件進行測試。采用該電子元件檢測系統能夠提高檢測效率。
聲明:
“電子元件檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)