本實用新型涉及半導體制冷片檢測裝置領域,公開了一種用于檢測半導體制冷片內部電路的測試裝置,包括導通條、絕緣定位條、電源和測試區域,測試區域用于放置待測半導體制冷片,絕緣定位條活動插入待測半導體制冷片內,導通條的兩端分別為定位端和連接端,定位端活動插入待測半導體制冷片內,定位端與絕緣定位條在待測半導體制冷片內活動擋接,導通條靠近定位端的側面設有導電部,導電部上固定有彈性導電體,彈性導電體與待測半導體制冷片內部待測電路部件連接,導通條的外側面除了導電部和連接端以外部分均覆蓋有絕緣層,通過本實用新型提供的測試裝置,可以快速、準確、高效便捷的檢測出制冷片內部電路的失效位置及其失效模式。
聲明:
“用于檢測半導體制冷片內部電路的測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)