本公開是關于一種異常檢測方法及裝置、電子設備以及計算機可讀存儲介質,涉及半導體生產測試技術領域,可以應用于確定晶圓測試過程中異常產生原因的場景。該方法包括:獲取測試主體的測試數據;確定測試數據對應的至少一測試指標;測試指標包括良率參數、阻值參數以及失效位元區域的一種或多種;確定測試主體在各測試指標下的異常判定結果;根據確定出的異常判定結果確定測試主體出現異常的異常原因類型。本公開通過分析多維度下的晶圓測試結果,快速分析出測試表現異常的原因,并及時預警。
聲明:
“異常檢測方法及裝置、電子設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)