本發明屬于半導體集成電路設計領域,提供了一種晶振檢測電路及晶振檢測方法。本發明提供的晶振檢測電路,包括信號發生模塊、復位驅動模塊、復位模塊以及判定模塊,由信號發生模塊接入被測晶振電路的晶振信號,通過判斷復位模塊的工作狀態判斷被測晶振電路是否產生振蕩信號,從而及時判斷被測晶振電路是否失效,提高了電路的可靠性,保證了電路后續定時功能的正常運行。
聲明:
“晶振檢測電路及晶振檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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