本發明公開了一種結構可靠性分析方法、裝置、電子設備以及存儲介質,方法包括:確定待分析領域的產品結構、功能函數和隨機變量特征參數,計算目標函數的梯度值,選取負梯度方向作為下降方向,確定隨迭代次數呈指數衰減的迭代步長后開始迭代,得到終點;當功能函數值滿足第一預設條件時,將終點作為可靠性分析方法的起點;取一種不涉及梯度計算的非負價值函數作為目標函數,確定搜索方向與迭代步長;根據起點、搜索方向與迭代步長,進行迭代處理,輸出滿足第二預設條件的最大可能失效點與可靠指標;求解原始空間下的最大可能失效點,在可靠指標基礎上計算結構失效概率。本發明提高了效率、有效性和通用性,可廣泛應用于可靠性分析技術領域。
聲明:
“結構可靠性分析方法、裝置、電子設備以及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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