本發明公開了一種磁盤生命周期分析方法及裝置,所述方法包括:獲取目標磁盤的監控指標信息;根據監控指標信息,生成目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線;根據目標磁盤的磁盤磨損率變化曲線,以及歷史的磁盤生命周期數據,分析目標磁盤的失效時間。采用本方案,可實現對磁盤失效時間的自動化預測,避免因磁盤故障造成的數據丟失或損壞問題,提高磁盤性能的測試效率,大大降低人力成本;并且,本方案實施過程簡單易行,適于大規模應用及實施。
聲明:
“磁盤生命周期分析方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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