本發明公開了一種在晶圓上快速選取失效晶粒的薄膜及使用方法,該薄膜是由絕緣材料制成的具有透明性質的薄膜,其中,該薄膜上標示有坐標系,該坐標系與晶圓上的測試坐標系對應。該薄膜的使用方法,包括步驟:1)根據晶圓上測試出的失效晶粒坐標,在薄膜上的相應坐標處標注記號;2)利用薄膜上存在的坐標系和對準標記,與晶圓對準后,將薄膜貼在晶圓上;3)揭去薄膜后,薄膜上的相應坐標處的記號就轉移到了晶圓上。利用本發明可以準確、省時地在晶圓上找到失效晶粒,給選取失效晶粒工作帶來極大便利。
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“在晶圓上快速選取失效晶粒的薄膜及使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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