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比特失效模式統計方法及裝置

981   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:37
本發明公開了一種比特失效模式統計方法及裝置,將獲取的待處理存儲器芯片單元的比特失效的原始數據利用Perl腳本進行分析和計算,不僅極大的降低了生產成本,又能夠快速的統計出每批產品的比特失效模式結果,從而直觀的展現出何種比特失效模式對產品的良率有著較大的影響,也就能夠直指工藝缺陷,有利于有目的的改善制造工藝。
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