本申請提供一種失效位元的修補方案的確定方法,應用于包含多個子域的芯片,該芯片還包括冗余電路,該冗余電路用于修補子域中的失效位元,該方法包括:在為子域中的當前待修補的目標失效位元確定一個或者多個可用冗余電路之后,從冗余電路的可靠性列表中獲取各可用冗余電路的可靠性值,該冗余電路的可靠性列表中包括多個冗余電路的可靠性值,根據該可用冗余電路的可靠性值確定子域中的目標失效位元的修補方案。其中,冗余電路的可靠性值是對已經發生的失效位元以及冗余電路中新失效位元所在的冗余電路的關系進行大數據分析得到的,通過該方法為子域中失效位元分配的冗余電路的可靠性高,從而提高了失效位元的修補效率和修補準確率。
聲明:
“失效位元的修補方案的確定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)